JEM-2100/HR

仕様

一般名：　透過型電子顕微鏡
メーカー名：　JEOL Ltd.（日本電子株式会社）
型番：　JEM-2100/HR（高分解能構成）
分解能：　0.23nm（粒子像）
　　　　　0.14nm（格子像）
倍率：　X2,000～X1,500,000（MAGモード）
　　　　X50～X6,000（LOW MAGモード）
　　　　X8,000～X800,000（SA MAGモード）
加速電圧：　80kV、100kV、120kV、160kV、200kV
電子銃：　LaB6
試料室傾斜角：　（X）±35度
　　　　　　　　（Y）±30度
試料ホルダ：　3種類
　　　　　　　（カートリッジ、2軸傾斜、ベリリウム2軸傾斜）
観察像：　明視野観察、暗視野観察
　　　　　回折像（ディフラクションパターン）観察
　　　　　走査像（STEM像）観察

エネルギー分散型X線分析装置（EDS）

メーカー名：　JEOL Ltd.（日本電子株式会社）
型番：　JED-2300
検出器：　SDD
検出元素：　B～U
　　　　　　点分析（定性・定量分析）
　　　　　　線分析
　　　　　　面分析（元素マッピング）
　　　　　　液体窒素：不要（SDD）