田渕雅陽さんが(社)電子情報通信学会 東京支部学生会研究発表会において東京支部学生奨励賞を受賞

【受賞者】田渕 雅陽 さん(電子情報システム学科4年)
【指導教員】高橋 正信 教授(電子情報システム学科)
【学会・大会名(正式名称)】(社)電子情報通信学会 東京支部学生会研究発表会
【賞名】東京支部学生奨励賞
【発表題目】画像処理による検品アシストシステムに関する研究

株式会社ワイヱス工業所(さいたま市)では小型金属部品の検品作業を目視による全数外観検査で行っており、作業者への負担が大きく、判断ミスの発生が懸念されるなどの問題を抱えています。そこで、検品を支援するシステムを実現するため、画像処理によりキズを自動検出する機能の実現を目指しました。

円環状の検査対象のキズ検出を容易にするため、円環の中心位置を自動検出する機能、飛び出したキズを検出するため基準となる位置を高精度に検出する機能、検出したキズの位置を部品画像に書き加えてフィードバックする機能など、実用的な機能を実現しました。

検品作業において同様の問題を抱えている会社に役立てていただければと考えています。今後はキズ検出の精度をさらに向上するとともに、部品の自動搬送システムに組み込んで検品支援システムを実現することが課題です。

本研究はさいたま市研究開発人材高度化タスクフォース事業(さいたま市産業創造財団)としてワイヱス工業所と共同で実施しました。

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