複合型陰イオン交換体を用いたIGZO液晶からの有用金属分離・回収技術の開発

矢島直幸さん

電子機器内部の多層プリント基板中のスルーホールビア用銅めっき薄膜は熱疲労破壊が問題となり、また、従来の熱疲労試験より環境負荷の少ない、信頼性評価方法が切望されている。そこで矢島さんは銅めっき薄膜の機械疲労試験法を考案し、効率的な熱疲労寿命の推定について検討した。

発表内容は、銅めっき薄膜用疲労試験片を用いた機械疲労試験と、従来の熱疲労試験が施された銅めっき薄膜は、いずれも粒界破壊し、さらに有限要素法による熱疲労解析を行うことで熱疲労試験より短時間・省電力で、熱疲労寿命予測をすることができるというもの。

受賞について矢島さんは「常日頃より苅谷先生に熱心に指導して頂けたことや,同期の仲間,先輩,後輩の協力があったからこそ受賞に至ることができました。この受賞を励みに今後も研究活動に邁進し、自分の能力を高めていけるよう努力していきたいと思います」とコメントした。

<指導教員:苅谷 義治教授(材料工学科)>